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激光粒度粒形分析儀-激光光阻粒度儀|粒形圖像分析儀基于激光光阻技術LOT-輔光儀器
  • 激光粒度粒形分析儀-激光光阻粒度儀|粒形圖像分析儀基于激光光阻技術LOT-輔光儀器

激光粒度粒形分析儀

激光粒度粒形分析儀是全球首款基于激光光阻技術LOT的激光光阻粒度儀和粒形圖像分析儀,這種新型激光粒徑粒形狀分析技術將微粒表現為噴霧,干粉,懸浮液和液體.這種先進的激光粒徑粒形狀分析技術提供了一個多功能工具來描述復雜的數據方式,超越了傳統方法.生成的獨特分布圖揭示粒子的本質。
型號:
FPMIC-MorphiousLOT-IA-100
品牌:
輔光
價格:
¥0.00
類別:
在線客服郵箱 [email protected] 服務熱線 021-5130 0728 您也可網站留言或在線客服留言垂詢,輔光儀器-規模型進口精密科學儀器供應商歡迎您!
  • 商品詳情
激光粒度粒形分析儀是全球首款基于激光光阻技術LOT的激光光阻粒度儀粒形圖像分析儀,這種新型激光粒徑粒形狀分析技術將微粒表現為噴霧,干粉,懸浮液和液體.這種先進的激光粒徑粒形狀分析技術提供了一個多功能工具來描述復雜的數據方式,超越了傳統方法.生成的獨特分布圖揭示粒子的本質。
激光粒度粒形分析儀
粒度粒形
終極分析儀

使用我們的集群軟件程序,可以將各種粒子進行分類和測定粒子性質和工藝條件之間的任何相互關系。我們的互動鑲嵌界面允許直接從各種圖表(即直方圖,集群地塊)對每個單個顆粒進行分析。標準數量和體積圖會顯示粒子的分布。
停止校準蘋果和香蕉測量
激光光阻時間分析是一種先進的粒度分析技術,基于真正的物理參數如[時間]和[速度]。但是激光衍射PSA技術是基于錯誤的假設。詳細信息請看“激光衍射出現了什么問題”。LOT(激光光阻時間)與圖像分析(LOT I A)組合是完全通用的,對于許多不能應用其他技術的PSA應用程序,可以采用這個組合。
激光粒度粒形分析儀
Morphious LOT IA 100激光光阻時間和圖像分析儀
LOT 和 IA的優勢
* 激光和視頻通道在一臺儀器上!
* 不會像激光衍射一樣把所有粒子假設為球狀
*直接測量正確的粒徑大小,不受物理或光學性質如折射或吸收指數的影響。
*檢測小部分

* 高濃度
* 透明和金屬粒子沒有問題。
*粒徑范圍0.2 µm 至 3.6 mm.
*許多配件可用于測量噴霧,干粉和懸浮液。
*臺式以及可開啟網絡線技術
* 易于使用,軟件功能強大。

激光粒度粒形分析儀
激光光阻時間分析及圖像分析組合

快速可靠的PSA技術和LOL(激光光阻時間)和圖像分析的獨特組合。
采用先進的高速高分辨率相機,使用復雜的動態圖像分析,準確描述非球形粒子。
結果是獨立的粒子或介質的物理或光學性能。
準確的分析和描述球形,非球形和拉長的粒子特性。
同時得到粒度,濃度和形狀的結果。
用于多種干,濕應用的模塊化設計。操作時樣品同時可視。
粒子特性-通過脈沖分析,粒子有非常強大的特征指紋。脈沖形狀直接關系到粒子形態。
Morphious LOT IA 100激光光阻時間和圖像分析儀細胞測量
Morphious是一種模塊化系統,可以安裝10個不同的測量細胞。有著快速變化測量細胞功能,這個多功能儀器可以分析液體,乳液,干燥粉末,纖維,磁性粒子,加熱液體和氣霧粒子。此應用程序的驅動方法,確保樣品是根據其具體性質測量的。

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